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SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：SE-VE是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息

SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對有機(jī)/無機(jī)鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化開發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析

產(chǎn)品簡介：全自動(dòng)橢偏檢測機(jī)臺作為一種小型橢偏集成機(jī)臺，通過整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測量模塊在線/離線式整體橢偏測量解決方案

產(chǎn)品簡介：SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡介：SE-PV光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)Ｓ眯凸庾V橢偏儀，針對光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽能電池表面減反膜測量定制開發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)薄膜物性表征分析

產(chǎn)品簡介：SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)Mapping測量模塊，通過橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測量表征分析